丰度

 

类似于UV检测器上的吸光度在背景值上信号的垂直增加，表示某特定离子的强度(当x轴被校正为质量单位)或存在的总离子强度(当水平轴被校正为时间或扫描)。单个被测物或化合物产生的所有碎片离子分别与基峰相比的值(每个离子的相对丰度)被作为该化合物的特定碎裂模式，进行质谱图。

 

准确测定的质量

 

以一定误差值测得的化合物质量数，如测量误差为5ppm。精确测定的质量通常也用于指具体的技术，而不是测量的质量。精确质量是化合物质量的准确理论值。

 

常压固体分析探针(ASAP)

 

在1970年代，基于Horning的工作，由McEwen和McKay开发了这种形式的样品电离途径，使用标准的APCI等离子体，通过将样品放置入加热的氮气流中，形成离子。加热挥发非常多的样品，通过与APCI等离子体形成的亚稳定离子之间的电荷交换形成离子。使用质量精度高的质谱仪，能从复杂混合物中相对清楚的鉴定出低含量水平的单个化合物。也可参见DART和DESI。

 

大气压电离(API)

 

该专业用语通常指的是，诸如电喷雾电离(ESI)、大气压化学电离(APCI)和其它在大气压下操作的技术。

 

大气压化学电离(APCI)

 

原本称为溶剂介导的电喷雾，通常有效的应用于直接脱离溶液不易电离的中性分子。APCI在尖锐的针尖提供电流，被放置在进入的气雾流中，以建立来自溶液自身的亚稳离子等离子体，当被分析物通过等离子体时，将来自这些离子的电荷传递给被分析物。加热LC或溶剂流通过的探针，形成气溶胶。

 

常压气相色谱

 

由DuPont的Chales McEwen于2002年开发而来。使用加热的转移管线，GC流出物能够引入到质谱仪的标准API(或ESI/APCI)离子源。这便于那些适合用GC分析的化合物简单方便地从ESI向GC转换。电离方式可以是APCI或APPI。

 

大气压光电离(APPI)

 

1980年代已被开发出，但是在2000年后，发现氪气灯能够产生10eV（大约）足够的光子能量，电离诸如PAH和甾体等通常不适合采用ESI和APCI电离的非极性被测物，这项技术才被商业化。

 

基峰

 

通常指与波谱图中其它峰相比最强的峰；在能给出大量结构信息的电离技术中，比如EI，基峰可能不是母离子或分子离子。

 

校正

 

通常以恒定流速导入已知的物质，质谱仪软件按指定的过滤条件(例如，四级杆质谱仪的RF/DC比率)采集信号。将采集信号与参照文件比较后，在软件中建立校对查询表。然后将校正表作为通过四级杆质荷比的基准，分配具体数值。

 

电荷残留机制

 

该机制与电喷雾电离相关；1968年由Malcolm Dole第一次提出该理论，在该理论中，他假定当小液滴挥发时，其电荷仍然保持不变。液滴的表面张力最终不能平衡带电电荷的斥力，将小液滴炸裂成很多的更小液滴。持续发生库仑分解，直到小液滴只含单一的被测物离子。当溶剂从最后形成的小液滴中挥发掉，将形成气相离子。

 

化学电离(CI)

 

通过导入反应试剂，在低真空(0.4托)诱发碰撞，以增加分子离子的产率和提高灵敏度；因为这种电离，相比于电子撞击电离，是一能量非常低的过程，所得碎片减少，通常称为软电离技术。可参见电子电离中的相关内容。

 

碰撞诱导解离(CID)

 

也称碰撞激活解离(CAD)，是气相中破碎成分子离子的一种机制，分子离子通过在真空区域加速(采用电势)到高动能，随后与中性分子，如氦、氮或氩，碰撞，碎裂形成碎片离子。一部分动能通过碰撞转化或内化，结果使化学键断裂，分子离子碎裂为更小的片段。一些类似的‘特殊目的'的破碎方法，包括电子转移解离(ETD)，电子捕获解离(ECD)。

 

实时直接分析(DART)

 

2002年，由Robert Cody和其它研究人员开发出，在应用上类似于DESI，虽然在功能上更接近于APCI。样品放置在一种底物之上，通过类似于APCI的过程，形成的高能粒子，轰击样品。更确切的说，通过等离子体形成亚稳离子，再由加热后的氮气，直接将亚稳离子输送到靶点。

 

延时提取 (DE)

 

为MALDI-TOF质谱仪开发的一项技术，在离子形成后，加速离子进入飞行管之前，冷却"并聚焦离子大约150纳秒。与未冷却的离子相比，冷却的离子具有较低的动能分布，当冷却离子进入TOF分析器时，冷却离子最终降低离子时间展宽，结果增加了分辨率和准确度。DE对大分子不具有显著的效益(例如，蛋白质>30000Da)。

 

解离-电喷雾电离 (DESI)

 

在2002年，Graham Cooks第一次描述了该电离技术，将其作为从惰性基质表面(通常条件下)产生软次级离子的方式。该技术类似于MALDI，使用ESI探针，以相对于惰性基质表面大约50度的入射角瞄准，使离子化学喷射，进入质谱仪。已表明不需样品制备，能得到直接来自很多极性和非极性表面材料的信息(皮肤，完整水果上检测药物残留等等)。

 

硅上的脱吸电离(DIOS)

 

曾经被视为MALDI制备样品的基质替代物，尤其对小分子，因为基底(裸露的硅表面)不产生干扰离子。在1990年代后期，其商业潜力减小，因为板的制造存在难处，并且表面容易被污染。

 

直流电流

 

当描述四级杆作为质量过滤器怎样工作时，这一专业用语通常与"射频"联合使用。在1953年，Wolfgang Paul证明在4根平行杆之间，将射频(RF)和恒定直流电流(DC)电势叠加，可作为质量分离器或过滤器，只有特定质量范围的离子，可以恒定振幅振荡，通过四极杆而被分析器收集。

 

电子电离 (EI)

 

有时错误地称为"电子撞击"电离，这种电离技术是电子与颗粒(原子或分子)相互作用的结果；该技术被认为是‘硬'电离技术，因为电离过程中传递大量能量，破坏分子内部化学键，破坏这些化学键需要高达千卡/摩尔的能量。电离电压(通常70eV)指的是引起电子加速的电压差，该电压诱导电子电离。不同于CI，EI通常在高真空下工作，以避免不可控的碰撞。分析器也在非常高的真空下工作(10-4到10-6托)。

 

电喷雾电离(ESI)

 

为所谓的‘软'电离技术。大气压电离(API)是已被广泛使用的技术。自从1980年代后期以来，该技术显示出显著的商业价值，这要归功于，对引导流体在其内部流动的导电管(不锈钢毛细管)施加过多的能量(电压范围在3-5千伏)，当液体从导电管经过时，超过瑞利极限，形成气溶胶而被射出，产生包含离子，半径大约为10微米的气溶胶液滴。通常离子被质子化，以M+H的阳离子模式或M-H的负离子模式，被检测。

 

元素分析

 

离子、分子或自由基的名义质量是，其基本组成元素名义质量的总和。准确质量测定基于计算的基本组成，但是‘元素分析'通常针对无机材料-只确定基本的组成，不确定结构-在一些情况下，可分析固体金属样品。诱导偶合等离子体(ICP)源通常通过放电(或较低能量的发光放电)电离样品。在万亿分之一水平使用精密仪器检测则不常见。

 

精确质量

 

化合物质量的准确理论值。准确测定质量是化合物的质量测定值，存在测量误差，如5ppm。准确测定质量也通常是指具体的技术，而不是测量的质量。

 

快原子轰击(FAB)

 

是较早的所谓的软电离技术之一，轰击的结果通常有密集的分子离子，并且几乎不发生碎裂。被测物放入流动的基质中(通常是甘油)，或更常见置于探针的顶端，然后将其置于高能原子的路径上-通常是氙或化铯。该技术对分子量大于10000原子单位的生物分子有效，但可与扇形磁场联用的特点更加重要，使用这种联用技术，能够确定准确的质量，比如新合成的肽。灵敏度可能非常高(低飞摩尔水平)。这项技术可能难于掌握，甘油污染质谱仪离子源，甘油离子的存在，可能掩盖较低的质量。自从ESI引入后，该技术很少使用。

 

场电离 (FI)

 

FI为软电离技术，对大量的各种被测物，几乎没有碎裂作用。该技术对石油化学方面的应用尤其显著，在这个领域里，采用其它电离技术会有局限性，因为存在碎裂(EI)问题或其电离特点复杂(CI)。带高电压的一根细金属丝，在有机化合物蒸汽中，比如茚，被加热。产生的呈树突状沉积在金属丝表面的结构，被热分解，生成非常纤细的传导纤丝。当在非常纤细的点，施加高电势，将在其尖端产生非常强的电场，这就提供了发生场电离的条件。样品分子贴近通过FI发射极形成的大量碳树突状结晶的尖端。FI发射极与一对空提取杆贴近放置。发射极为地电势，提取杆施加相对高的电压(12kv)，这样在碳树突状结晶的尖端周围，形成非常高的电场。GC柱紧靠发射极金属丝，并与其成一直线。在电场的作用下，出现分子价电子的量子通道，释放出离子基。

 

流动注射分析(FIA)

 

这是通过LC进样器导入样品的分析(通常事先纯化，去掉干扰物，减少结果谱图的复杂性)，但是不接色谱柱。LC只作为样品导入装置。

 

细丝

 

在电子电离中，细丝是电子的来源，电子与被测物相互作用，引起电离。通常由金属丝制成(扁平或圆形)，在电流加热时，释放出70eV的电子。

 

碎片离子

 

碎片离子是由母体分子离子发生碎裂产生。解离出的所有碎片的质量数之和等于母离子的质量数，在指定的条件下，以可预测的方式，断裂相同的内键，分子碎裂方式是可以预测的(碎片离子相同，其相对丰度也相同)。也可参见从具体MRM试验得到的产物(子代)离子。

 

气相离子

 

为了质谱仪能够工作和采集，被测物必须实现从静止状态像离子状态转换。如该手册所述，有很多途径完成这一转换-一些途径采用比较激烈方式产生碎片，而另外的一些途径能保持被测物完好。能量作用于被测物，在气相产生离子，跟在LC中根据冷凝相用于被测物分离的过程完全相反。

 

均方根误差测定(RMS)

 

为评估仪器质量准确测量功能(类似于预期使用)的综合方法，数值上等于均方根或RMS误差。RMS误差按下列关系计算，在此Eppm是ppm误差，n是考察质量的个数。RMS =n

 

扫描

 

通过计算机调整控制电压(DC和RF)，在指定的范围内，随时间扫描(检测)给定质量范围内的任何带电颗粒。能够检测多种带电离子则会降低灵敏度，因为检测器能够响应一些目标离子，但检测器却被设置在其它的检测范围。参见选定离子的监测，四级杆和离子电流章节的内容。

 

选定离子的监测(SIM)

 

也称为选定离子的记录(SIR)；也可参阅四级杆和扫描。

在四级杆上，能够调节DC和RF电压设置，仅让一个带电颗粒通过(单质荷比)到达检测器。结果噪音显著减少，当灵敏度显著增加时，出现信号(此m/z的所有颗粒始终被检测)，这完全以检测不到混合物中的其它质荷比的颗粒为代价。热喷雾虽然文献报道这种类型的接口已有一段时间，但是直到1980年代早期才普及。Vestal和Blakely应值得赞赏，因为他们在LC和MS之间首次建立了实际可行，完全商业化的接口技术。大约流速1mL/min的LC溶剂在探针中，被加热(绝缘管大约1-2英尺长，75-150微米的内径)，形成的蒸汽喷入质谱仪。质谱仪中的气溶胶液滴被进一步去溶剂，形成离子，进入分析器(以适合的角度喷射)，会受到透镜电压的影响。参见扫描，离子电流。