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扫描俄歇微探针(SAM)
发布日期:2013-05-30
核心提示:扫描俄歇微探针(SAM);基本功能: (1)可进行样品表面的微区选点分析(包括点分析,线分析和面分析); (2)可进行深度
扫描俄歇微探针(SAM);
基本功能:
(1)可进行样品表面的微区选点分析(包括点分析,线分析和面分析);
(2)可进行深度分析;
(3)化学价态研究
用途:
纳米薄膜材料,微电子材料的表 面和界面研究及摩擦化学研究。
编辑:songjiajie2010
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关键词:
化学价态
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