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扫描俄歇微探针(SAM)

放大字体  缩小字体 发布日期:2013-05-30
核心提示:扫描俄歇微探针(SAM);基本功能:  (1)可进行样品表面的微区选点分析(包括点分析,线分析和面分析);  (2)可进行深度
 扫描俄歇微探针(SAM);
 基本功能:
  (1)可进行样品表面的微区选点分析(包括点分析,线分析和面分析);
  (2)可进行深度分析;
  (3)化学价态研究
 用途:
纳米薄膜材料,微电子材料的表 面和界面研究及摩擦化学研究。
编辑:songjiajie2010

 
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关键词: 化学价态
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