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X-4显微熔点仪说明书

放大字体  缩小字体 发布日期:2010-11-19   来源:丁香通   浏览次数:266
X-4显微熔点仪说明书


一、用途
物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度。在有机化学领域中,熔点测定是辨认该物质本性的基本手段,也是纯度测定的重要方法之一。
目视显微熔点测定仪是研究、观察物质在加热状态下的形变、色变及物质三态转化等物理变化过程的有力检测手段。
本仪器可用载波片方法测定物质的熔点、形变、色变等;也可用药典规定的毛细管方法测其熔点,尤其对深色样品,如医药中间体、颜料、橡胶促进剂等的熔点,并能自始自终观察到其熔化的全过程。
二、特点
1. 本仪器使用毛细管法进行测量。专利申请号:01132251  9
2. 根据特殊要求,本仪器也可用载波片——载波片法进行测量。
3. 本仪器采用LED数字显示熔点温度值。
4. 本仪器采用热台控制系统和显微镜组合成一体的结构,简单可靠,使用方便。
5. 升温速率连续可调。我们建议你采用1℃/分的升温速率测量熔点的温度值,在第一次使用时记录下1℃/分的升温速率时的波段开关和电位器的编号,则以后用此位置就能得到你的所要求的升温速率。并请注意(1)室温的影响;在同样波段开关和电位器的编号下,室温越低,升温速率越慢。(2)电子元件的影响:电子元件的老化,升温速率一定时,其电位器的编号会有所变化,只要进行微调即可。编号越大,升温速率越快。
三、主要技术参数
1. 显微镜采用4倍物镜,10倍目镜
2. 测量范围:室温∽320℃
3. 测量精密度:室温∽200℃的误差±1℃,200℃∽320℃的误差±2℃
4. 电源220V   50HZ   功率    80W
四、仪器结构原理
本仪器显微镜、加热台为一体结构,温度检测器为插入式使用方便,显微镜用来观察样品受热后的反映变化及熔化的全过程。
加热台用电热丝加热,并带有风机,可快速降温。
可用载波片法测量,也可用毛细管测量熔点。
五、操作方法
1. 对新购仪器,电源接通,开关打到加热位置,从显微镜中观察热台中心光孔是否处于视场中,若左右偏,可左右调节显微镜来解决。前后不居中,可以松动热台两旁的两只螺钉,注意不要那下来,只要松动就可以了,然后前后推动热台上下居中即可,锁紧两只螺钉。在做推动热台时,为了防止热台烫伤手指,把波段开关和电位器扳到编号最小位置,即逆时针旋到底。
2. 进行升温速率调整,这可用秒表式手表来调整。再秒表某一值时,记录下这时的温度值,然后,秒表转一圈(一分钟)时在记录下温度值。这样连续记录下来,直到你所要求测量的熔点值时,其升温速率为1℃/分。太快或太慢可通过粗调和微调旋钮来调节。注意即使粗调和微调旋钮不动,但随着温度的升高,其升温速率会变慢。
3. 测温仪的传感器上,把其插入热台孔到底即可,若其位置不对,将影响测量准确度。
4. 要得到准确的熔点值,先用熔点标准物质进行测量标定。求出修正值。(修正值=标准值- 所测熔点值),作为测量时的修正依据。注意:标准样品的熔点值应和你所要测量的样品熔点值越接近越好。这时,(样品的熔点值=该样品实测值+修正值)。
5. 对待测样品要进行干燥处理,或放在干燥缸内进行干燥,粉末要进行研细。
6. 当采用载——该玻片测量时,建议该盖玻片(薄的一块)放在热台上,放上药粉,再放上载波片测量。
7. 在数字温度显示最小一位(如8或7之间跳动时)应读为8.5℃。
8. 在重复测量时,开关处于中间关的状态,这时加热停止。自然冷却到10以下时,放入样品,开关打到加热时,即可进行重复测量。
9. 测试完毕,应切断电源,当热台冷却到室温时,方可将仪器装入包箱内。
六、常见故障及其处理方法

故障现象 原因分析 排除方法
不升温 1 1A保险丝断 换1A保险丝
2 波段开关扳到O位置 波段开关顺时针最大位置
3 电热丝断 换电热丝
显微镜内看不见像 1 照明灯不亮 换照明灯
2 显微镜筒末对准光孔 示意图松动,左右扳动直到看见像
有升温,升温灯不亮 升温灯坏 换升温灯

 

编辑:songjiajie2010

 
 
关键词: X-4      显微熔点仪    说明书     
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